Measurement Workshop & Demonstration Electronics Board Diagnostic & Repairing
วัน : อังคารที่ 25 กรกฎาคม 2566
วัน : อังคารที่ 25 กรกฎาคม 2566
เวลา : 9:00 - 16:00 น.
สถานที่ : ณ ห้อง ECO 2 มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์ ศูนย์พัทยา
- ลงทะเบียนไม่เกินบริษัทละ 2 ท่าน (ลงทะเบียนผ่านเว็บ 1 ครั้ง/1 ท่าน)
- รับจำนวนจำกัด (ต้องได้รับการยืนยันเข้าร่วมสัมมนาเท่านั้น)
เพื่อเสริมสร้างทักษะทางด้านการวิเคราะห์ตรวจซ่อมแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์และทักษะการใช้เครื่องมือตรวจวัดทางอิเล็กทรอนิกส์ให้กับช่าง หรือวิศวกรในหน่วยงาน เพื่อให้ผู้เข้าร่วมอบรมเรียนรู้การใช้งาน ทั้งภาคทฤษฎีและปฏิบัติกับเครื่องมือจริง ทางบริษัท เมเชอร์โทรนิกซ์ จำกัด ขอเชิญเข้าร่วมอบรมในหัวข้อเรื่อง “Measurement Workshop & Demonstration Electronics Board Diagnostic & Repairing”
คอร์สฝึกอบรมจะครอบคลุมเนื้อหา หลักการวิเคราะห์หาจุดเสียบนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ คุณลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์ R, L, C, รวมถึงอุปกรณ์ชนิด Semiconductor ใช้การวิเคราะห์หาจุดเสียในแผงวงจรโดยเทคโนโลยีภาพความร้อน,การตรวจวัดและวิเคราะห์สัญญาณทางไฟฟ้าในงานซ่อมบอร์ดอิเล็กทรอนิกส์ด้วย MIXED Domain Oscilloscope ที่รวบรวมฟังก์ชันสำหรับงานตรวจวัด
ผู้เข้าร่วมอบรมจะได้เรียนรู้ควบคู่ไปกับการปฏิบัติงานใช้เครื่องมือวัดจริงของ HUNTRON Tracker 3200S,FLUKE TI, PACE เครื่องบัดกรี-ดูดตะกั่ว, GW INSTEK Mixed Domain Digital Oscilloscope, Multi-Function Generator, DC Electronic Load และ Precision LCR Meter
หัวข้อการบรรยาย
9:10 น. คุณวิชิต |
1. เครื่องมือวัดในไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ - เครื่องวัดออสซิลโลสโคปแบบดิจิตอล Mixed domain ที่รวบรวมการทา งานแบบมัลติฟังก์ชัน DSO, Spectrum, DMM, AWG, Logic analyzer และ CAN BUS Decode - การประยุกติ์ใช้งาน DC electronic load และ Source Meter - เครื่องกำเนิดสัญญาณ Arbitrary และการสร้างและจำลองรูปคลื่นด้วย Software |
10:30 น. |
พักรับประทานอาหารว่าง (Coffee Break) |
10:45 น. คุณวิชิต, คุณณัฐวุฒิ |
2. เครื่องมือวัดในไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ - เครื่องมือตรวจ Precision LCR Meter, EMC - การประยุกติ์ใช้งาน Programmable DC Power Source และ AC Power Source - Precision Digital Multimeter ความละเอียดสูง |
12:00 น. |
พักรับประทานอาหารกลางวัน (Lunch) |
13:00 น. คุณจิรายุ, ดร.ธีระวัฒน์ |
3. การตรวจวิเคราะห์หาจุดเสียบนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ - หลักการวิเคราะห์จุดเสียบนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ด้วย Power OFF Test - การวัดและวิเคราะห์คุณลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ชิดต่างๆ - เทคนิคใหม่ในการวิเคราะห์หาจุดเสียในแผงวงจรโดยการใช้ภาพความร้อน |
14:30 น. |
พักรับประทานอาหารว่าง (Coffee Break) |
14:45 น. คุณรัตน์มณี |
4. เครื่องมือที่การรื้อถอนอุปกรณ์บนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ - เครื่องมือที่ใช้ในการ Rework อุปกรณ์บนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ Demonstration การใช้งานเครื่องมือ Station 1 การวิเคราะห์หาจุดเสียบนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ด้วยเครื่อง HUNTRON Station 2 การ Rework อุปกรณ์บนบอร์ดอิเล็กทรอนิกส์ Station 3 การใช้งานเครื่องมือวัด Oscilloscope Mixed Domain Station 4 การทดสอบใช้งาน DC Electronics Load สำหรับภาคจ่ายไฟ DC หรือ Battery |